[9a-Z06-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [9a-Z06-9] 単分子接合の破断直前に現れる電子状態の解明

〇(D)一色 裕次¹、西野 智昭¹、藤井 慎太郎¹ (1.東工大院理)

キーワード：単分子接合, 走査型トンネル電子顕微鏡, 電流電圧特性

本研究では、STMブレイクジャンクション法を用いて、金属電極に単分子が架橋した分子接合を作製した。単分子接合の電流電圧特性（I-V）を解析することによって、単分子接合の電子状態を決定した。高速で連続的にI-Vを計測することで、金表面の単分子の揺らぎを電子状態の変化として捉えることに成功した。