[9p-Z11-1~17] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[9p-Z11-17] Long term stability of characteristic dispersion of organic TFT array.

〇Kazunori Kuribara¹, Tomoya Koshi¹, Atsushi Takei¹, Ken-ichi Nomura¹, Sei Uemura¹, Manabu Yoshida¹ (1.AIST)

Keywords:Organic semiconductor, Security, Low voltage operation

素子のバラつきを利用したセキュリティ（PUF）が近年注目を集めている。これまで有機デバイス自体の経時安定性の議論は行われていたが、そのバラつきの評価は行われてこなかった。本研究では2V駆動の有機TFTを作製し、その特性の空間分布とバラつきの経時変化を評価した。結果、バラつきは100℃の加熱を６時間行うことで67%低下することが分かった。さらに有機デバイスの加熱実験では劣化速度の定量評価も行った。