[9p-Z11-1~17] 12.4 有機EL・トランジスタ

[9p-Z11-17] 有機TFTにおける特性分布の経時安定性評価

〇栗原 一徳¹、古志 知也¹、武居 淳¹、野村 健一¹、植村 聖¹、吉田 学¹ (1.産総研)

キーワード：有機半導体, セキュリティ, 低電圧駆動

素子のバラつきを利用したセキュリティ（PUF）が近年注目を集めている。これまで有機デバイス自体の経時安定性の議論は行われていたが、そのバラつきの評価は行われてこなかった。本研究では2V駆動の有機TFTを作製し、その特性の空間分布とバラつきの経時変化を評価した。結果、バラつきは100℃の加熱を６時間行うことで67%低下することが分かった。さらに有機デバイスの加熱実験では劣化速度の定量評価も行った。