2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

9 応用物性 » 9.3 ナノエレクトロニクス

[9p-Z26-1~14] 9.3 ナノエレクトロニクス

2020年9月9日(水) 13:00 〜 17:15 Z26

西口 克彦(NTT)、内藤 泰久(産総研)

15:30 〜 15:45

[9p-Z26-10] イオンミリングを用いたナノギャップ電極パターン用微細形状の形成

乙津 和希1,3、菅 洋志1、塚越 一仁2、角谷 透3、島 久3、内藤 泰久3 (1.千葉工大、2.物材機構、3.産総研)

キーワード:ナノギャップ

ナノギャップ電極の形成は主に電子ビームリソグラフィ (EBL) と光露光を組み合わせたパターニングを用いており,水に弱い単結晶基板などに対しては光露光が使用できず,デバイス作製工程を工夫する必要がある.そこで,本研究では酸化膜を備えたシリコン基板上に金属膜を均一成膜し,EBLを用いて素子のふち構造を描画し,アルゴンミリングすることで描画時間の短縮や重ね露光が不要な,簡便な電極作製工程を提案する.