[9p-Z27-1~24] 11.1 基礎物性

[9p-Z27-19] テラヘルツ時間領域分光法を用いた高温超伝導体の面内異方性測定法の開発II

〇末木 聖大¹、中村 公大¹、Jacques Hawecker²、Juliette Mangeney²、Jerome Tignon²、Sukhdeep Dhillon²、掛谷 一弘¹ (1.京大院工、2.パリ高等師範学校)

キーワード：テラヘルツ時間領域分光法, 超伝導体

高温超伝導体の電子的な面内異方性を測定する手法として、テラヘルツ時間領域分光法を検討する。試料の前後に偏光子を挿入し、試料の結晶軸に対してテラヘルツ波の偏光を回転させて透過率を測定することで、伝導率の異方性を見積もる。今回は、LSAT基板上に育成されたYBCO薄膜を用いて、基礎的なデータを収集した結果を発表する。