10:45 〜 11:00 [14a-A404-8] XPS時間依存測定による二次元MoS2/SiO2/ Si構造のトラップ評価 〇松沢 理宏1,2、五十嵐 智3、松浦 賢太朗3、小林 大輔2、若林 整3、廣瀬 和之1,2 (1.東大院工、2.JAXA宇宙研、3.東工大・工学院)