11:15 〜 11:30 [14a-A410-9] 4H-SiC SJ-UMOSFET 内部のキャリアライフタイム分布測定 〇福井 琢也1、長屋 圭祐1、俵 武志2、加藤 正史1 (1.名工大、2.産総研)