2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[12a-A405-1~11] 12.2 評価・基礎物性

2020年3月12日(木) 09:00 〜 12:00 A405 (6-405)

龍崎 奏(九大)、西野 智昭(東工大)

11:30 〜 11:45

[12a-A405-10] C60分子接合におけるSERS活性サイト間の遷移

金子 哲1,3、安楽岡 浩司1、小林 柊司1、塚越 一仁2、西野 智昭1 (1.東工大理、2.物材研MANA、3.JST さきがけ)

キーワード:表面増強ラマン散乱、電流‐電圧特性、分子接合

表面増強ラマン散乱 (SERS)計測は単一分子検出法として注目を集めている。一方、単分子SERSスペクトルの揺らぎが大きく、電子状態に由来したスペクトル変化の観測が困難である。本研究ではC60分子接合のSERS計測と電流-電圧計測を行うことで電子状態がSERSスペクトルに与える影響の解明を目指した。結果、分子接合中では金属-分子相互作用の異なる電子状態が存在し、相互作用の大きいさがSERS観測確率に影響を及ぼしていることが示唆された。