2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

[12a-D419-1~12] 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2020年3月12日(木) 09:00 〜 12:15 D419 (11-419)

清水 耕作(日大)、井手 啓介(東工大)

09:00 〜 09:15

[12a-D419-1] a-InGaZnO TFTを用いたK・Naイオン濃度の高感度センシング

竹知 和重1、岩松 新之輔2、村上 穣2、田邉 浩1、渡部 善幸2 (1.Tianma Japan(株)、2.山形県工技セ)

キーワード:酸化物半導体TFT、センサ、イオン濃度

a-InGaZnO TFTの延長トップゲート電極の先端にイオン感応膜を付与し、被検液に溶存するKイオンやNaイオンの濃度変化に対する信号電圧の変化を測定した。また、従来の市販イオン電極型センサでも同様な測定を行い、これらの結果を比較した。その結果、イオン濃度の変化に対して、市販センサよりも1桁高い信号電圧の変化がTFTセンサで得られ、高感度センシングのポテンシャルを確認した。