[12a-PB4-1~13] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

[12a-PB4-2] アプリケーションに起因するReRAMの信頼性ばらつきを考慮した近似計算ストレージ

〇松井 千尋¹、竹内 健^1,2 (1.中大研究開発機構、2.中大理工)

キーワード：抵抗変化型メモリ、ばらつき、機械学習