2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

8 プラズマエレクトロニクス » 8.1 プラズマ生成・診断

[12p-A302-1~18] 8.1 プラズマ生成・診断

2020年3月12日(木) 13:15 〜 18:00 A302 (6-302)

富田 健太郎(九大)、中川 雄介(首都大)、田中 学(九大)

17:45 〜 18:00

[12p-A302-18] ECRイオン源からのXeイオンビーム形成とビーム減速実験

奥村 一起1、大森 貴之1、久保 渉1、針﨑 修平1、加藤 裕史1 (1.阪大院工)

キーワード:Xeイオンビーム

人工衛星の設計において,低エネルギーにおけるXeイオンビームのスパッタリングは問題である.そこで,実際の衛星材料に低エネルギーXeイオンビームを照射しスパッタリング量を定量評価することを目指した装置構築・実験に取り組んでいる.本研究では,プラズマ生成条件を変化させたときの減速時におけるXeq+イオンビーム電流測定,減速時のビームプロファイル測定を行うための系の構築を行う.