[12p-B406-1~8] 3.14 光制御デバイス・光ファイバー

△ [12p-B406-2] コヒーレントヘテロダイン検波を用いた後方散乱光の位相測定による複屈折測定の方法

〇(B)武井 菜々子¹、笠 史郎¹ (1.明大総合数理)

キーワード：後方散乱光、コヒーレントヘテロダイン検波、複屈折

コヒーレントヘテロダイン検波技術は、光の位相情報を直接観測できるため、さまざまな光学測定技術に適用できる。光ファイバ内の後方散乱光は、ファイバ内部の電界分布情報を反映している。光ファイバーの微小な歪みによって生じる複屈折は、後方散乱光の位相変化をもたらす。そこでコヒーレント技術を用いて複屈折の値を測定するための実験系を構築し、測定することを目指した。