2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[12p-B408-1~10] 1.5 計測技術・計測標準

2020年3月12日(木) 13:30 〜 16:00 B408 (2-408)

寺崎 正(産総研)

13:30 〜 13:45

[12p-B408-1] 熱パルスイオン源を用いたチップ型質量分析計の開発-1

塩沢 慎也1、廣瀬 大亮1、高村 禅1 (1.北陸先端大)

キーワード:質量分析、イオン源

我々は小型安価なチップ型質量分析計の開発を目的とし、これまでに微小イオン源として熱パルスイオン化(PHDI)法を開発している。PHDIは薄膜微小ヒーターのパルス加熱により試料を高効率でイオン化可能であり、マトリックスフリー、低極性分子のイオン化も可能である。本研究では再現性向上のため微小ヒーターの位置決めステージを作製することで、再現性を大幅に向上した。改善した装置を用いて、これまで不可能であった取得イオンピークのパルス加熱時間依存性を評価した。