[12p-PA3-1~33] 11 超伝導

[12p-PA3-24] テラヘルツ時間領域分光法を用いた高温超伝導体の面内異方性測定法の開発

〇末木 聖大¹、中村 公大¹、Jacques Hawecker²、Juliette Mangeney²、Jerome Tignon²、Sukhdeep Dhillon²、掛谷 一弘¹ (1.京大院工、2.パリ高等師範学校)

キーワード：テラヘルツ時間領域分光法、超伝導体

本研究では、超伝導体の電子的な面内異方性を測定する手法として、テラヘルツ時間領域分光法(THz-TDS)を検討する。THz-TDSは、超伝導ギャップよりエネルギーが小さく電子の超伝導状態を観測できる点、電場の偏光を制御できる点で、本研究に有用であると考えられる。試料の前後に偏光子を挿入し、それらを水平に偏光したテラヘルツ波が透過するというセットアップでの透過強度をシミュレーションし、その後YBCOで測定を行った。