[13a-A409-1~9] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[13a-A409-6] Estimation of charge-injection barriers at the Metal/Phtalocyanine Interface Using Accumulated-Charge Measurement

〇(M1C)Sunao Shimomoto¹, Hiroyuki Tajima¹, Takesi Komino¹, Toshiaki Tanimura¹, Yuichi Omura¹, Tomofumi Kadoya¹, Kazusuke Maenaka², Tokuji Yokomatu² (1.Material Science, Univ. of Hyogo, 2.Engineering, Univ. of Hyogo)

Keywords:Organic Semiconductor, Charge-Injection Barriers, Accumulated-Charge Measurement

有機半導体デバイスにおける金属/有機半導体界面の電荷注入障壁はデバイスの駆動電圧などのデバイス特性を決定する重要なパラメータであり、蓄積電荷測定(ACM)法は、実デバイス上のこのパラメータを直接決定する有力な手法である。これまで、正孔注入障壁について我々は報告してきたが、本研究では、ACM法の拡張を目指して、metal free phtalocyanine (H₂Pc)/ Pdの電子注入障壁の測定を試みた。