The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.7 Compound and power electron devices and process technology

[13a-B401-1~10] 13.7 Compound and power electron devices and process technology

Fri. Mar 13, 2020 9:00 AM - 11:45 AM B401 (2-401)

Kozo Makiyama(Fujitsu Lab.)

10:45 AM - 11:00 AM

[13a-B401-7] Fabrication of fully vertical GaN Schottky barrier diode on Si

〇(M1C)Kyonosuke Danjo1, Ryo Mizutani1, Keiji Yamamoto1, Takashi Egawa1 (1.NITech)

Keywords:semiconductor, GaN

パワーエレクトロニクス分野において、更なる発展のために高周波、小型なデバイスが望まれている。そのためには、半導体をパワーデバイスとして浸透させる事が不可欠である。そこで我々の研究室では次世代材料として、ワイドギャップ半導体のGaN(窒化ガリウム)に注目し、低コスト高耐圧を狙えるSi基板上縦型GaNデバイスの研究を進めている。本研究では、Si基板上縦型GaN-SBD(ショットキーバリアダイオード)について報告する。