The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[13a-PB2-1~7] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Fri. Mar 13, 2020 9:30 AM - 11:30 AM PB2 (PB)

9:30 AM - 11:30 AM

[13a-PB2-7] Thermal analysis of NiCr thin film resistors with pulse energy injection condition

Ryosuke Watanabe1, Keita Izawa2, Shota Kajiya1, Daiki Tsunemoto1, Koki Kasai1, Atsushi Kurokawa1, Toshiki Kanamoto1 (1.Hirosaki Univ., 2.Nikkohm co.,Ltd.)

Keywords:Thin film resistor, Thermal analysis

モータなどコイルが含まれる回路では、スイッチの接続、遮断時にパルス状の逆起電力が発生し、その大きなパルスエネルギーにより回路内部の他の素子を破壊することがある。これを防ぐためにスナバ回路を用いて、発生したパルスエネルギーを熱に変換することが行われている。本研究では、パルスエネルギーの熱変換に用いられるNiCr薄膜抵抗器の耐パルス性向上を目指し、抵抗器へのパルス印加時の熱挙動解析を行った。