2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 不揮発性メモリ技術の最前線 - スピンから相変化型、抵抗変化型、強誘電体まで本音で議論

[13p-A301-1~7] 不揮発性メモリ技術の最前線 - スピンから相変化型、抵抗変化型、強誘電体まで本音で議論

2020年3月13日(金) 13:30 〜 17:15 A301 (6-301)

揖場 聡(産総研)、湯浅 裕美(九大)

14:00 〜 14:30

[13p-A301-2] 抵抗変化型不揮発性メモリReRAMのデバイス技術と次世代アプリへの展開

粟村 聡資1 (1.PSCS)

キーワード:ReRAM、ニューロモルフィックデバイス、水素センサ

ReRAMは2層のタンタル酸化物(TaO)構造に形成されたフィラメント内部の酸素空孔密度を,電流により変化させることで抵抗変化する不揮発性メモリである.ReRAMの特徴(低消費電力・酸素空孔密度によるアナログ特性)を応用し,当社ではエッジAI(RAND)や水素センサ(ReHセンサ)等の次世代アプリ開発を行っている.本発表ではReRAMのデバイス技術及び次世代アプリ向けデバイスについて紹介する.