[13p-A402-1~10] Future developments on energy storage devices ~For improvement of capacitance and reliability~

[13p-A402-1] Degradation mechanism and reliability of multilayer ceramic capacitors

〇Akira Ando¹ (1.Murata Mfg. Co.)

Keywords:dielectrics, multilayer ceramic capacitor, reliability

高信頼MLCC材料を探索するにあたって、誘電体材料の高電界下での劣化メカニズムを明らかにすることは極めて重要である。本講演ではこれまでに得られている誘電体の劣化メカニズムの概要をレビューし、高信頼誘電体材料を得るための指針について述べる。