[13p-A402-1~10] Future developments on energy storage devices ~For improvement of capacitance and reliability~

[13p-A402-6] Dielectric material design and evaluation methods for securing reliability of MLCCs

〇Koichiro Morita¹, Tetsuo Shimura¹, Shinichi Abe¹, Nobuhiro Sasaki¹ (1.TAIYO YUDEN)

Keywords:highly accelerated lifetime test (HALT), thermally stimulated depolarization current (TSDC), Barium Titanate (BaTiO3)

積層セラミックコンデンサ（MLCC）信頼性向上のため，酸素空孔量を減らし，さらにその移動を妨げる様々な材料設計が検討されている。
また，世の中に出回るMLCCの信頼性を確保するには，「高加速寿命試験（HALT）による評価が実使用条件での寿命を保証できるか」ということが非常に重要な命題となる。当日の講演では，この命題に対する既存モデルの問題を解決するために私たちが提案したモデルを紹介する。