[13p-A405-1~17] 12.2 Characterization and Materials Physics

[13p-A405-16] Measuring the dispersion of image potential states of organic semiconductor film by angle-resolved low energy photoelectron spectroscopy

〇Hanako Kuramochi¹, Haruki Sato², Hiroyuki Yoshida³ (1.Chiba Univ., 2.Chiba Univ. Graduate School, 3.Chiba Univ. MCRC)

Keywords:angle-resolved low energy photoelectron spectroscopy, organic semiconductor film, image potential states

鏡像準位とは、導体表面付近の電子が表面上に正電荷を誘起し、そこに生じる引力ポテンシャルによって保持される量子化された空準位で、自由電子的な分散をする。導体表面上に有機半導体が吸着している場合には、ポテンシャルの変化を反映するため、鏡像準位を測定することで導体界面のポテンシャルを調べることができる。我々は角度分解低エネルギー逆光電子分光法を開発し、有機半導体薄膜の鏡像準位の波数分散の測定を試みた。