[13p-A405-1~17] 12.2 評価・基礎物性

[13p-A405-16] 角度分解低エネルギー逆光電子分光による有機半導体薄膜の鏡像準位の波数分散の測定

〇倉持 華子¹、佐藤 晴輝²、吉田 弘幸³ (1.千葉大工、2.千葉大院工、3.千葉大分子キ)

キーワード：角度分解低エネルギー逆光電子分光法、有機半導体薄膜、鏡像準位

鏡像準位とは、導体表面付近の電子が表面上に正電荷を誘起し、そこに生じる引力ポテンシャルによって保持される量子化された空準位で、自由電子的な分散をする。導体表面上に有機半導体が吸着している場合には、ポテンシャルの変化を反映するため、鏡像準位を測定することで導体界面のポテンシャルを調べることができる。我々は角度分解低エネルギー逆光電子分光法を開発し、有機半導体薄膜の鏡像準位の波数分散の測定を試みた。