[13p-A405-1~17] 12.2 Characterization and Materials Physics

△ [13p-A405-3] In situ photoluminescence measurement of post-growth organic thin films

〇Taiyo Nakanishi¹, Akinori Honda², Hiroshi Itoh², Yasuo Nakayama¹, Takuya Hosokai² (1.Tokyo Univ. Sci., 2.AIST)

Keywords:organic semiconductor, Transient photoluminescence, In situ measurement

有機薄膜の発光特性を詳細に調べるためには、製膜から測定までの経過時間とガス分子曝露の影響を検討する必要がある。本研究では製膜から測定までを真空一貫で行える過渡発光分光(PL)計測装置を開発して、試料として代表的な室温燐光材料であるIr(ppy)₃の真空蒸着膜を検討した。その結果、ソーダガラス上に製膜した試料薄膜は水の曝露によってアモルファス膜から結晶性膜へと変化しうることが明らかになった。