[13p-D215-1~6] 量子ビームによる表面物性・構造解析の新展開

[13p-D215-6] 大気圧光電子分光装置を用いたガス雰囲気下試料の物性・構造解析

〇高木 康多¹ (1.高輝度光科学研究センター)

キーワード：光電子分光、オペランド、硬X線

従来の光電子分光(XPS)は真空下の測定が必須であったが、近年の差動排気型の光電子アナライザーの開発と高輝度の放射光の利用により3000 Pa程度のガス雰囲気下での光電子分光測定が可能となった。さらにSPring-8の「先端触媒構造反応リアルタイム計測ビームライン」(BL36XU）において、雰囲気制御型硬X線光電子分光装置の上限をさらに高め大気圧下でのXPS測定に成功した。