2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[13p-D411-1~16] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2020年3月13日(金) 13:45 〜 18:15 D411 (11-411)

小塚 裕介(物材機構)、福村 知昭(東北大)

17:45 〜 18:00

[13p-D411-15] (La1-xSrx)VO3/p-Si 接合の順方向電流特性の組成依存性

村主 圭佑1、根元 亮一1、阪永 裕士1、Yujun Zhang2、和達 大樹2、新船 幸二1、吉田 晴彦1、堀田 育志1 (1.兵県立工、2.兵県大理)

キーワード:遷移金属酸化物、シリコン、強相関電子系

モット絶縁体である(La1-xSrx)VO3[LSVO(x)]と Si 基板の直接接合に着目して研究を行っている。この接合は整流特性を示すが、その逆方向バイアス特性では一般的な半導体モデルでは説明できない抵抗スイッチング現象が見られるなど、LSVO による強相関物性の特異な現象を融合できる可能性を秘めている。今回は、順方向バイアス特性の組成依存性を調査したところ、さらに興味深い現象が観測されたのでそれについて報告する