The 67th JSAP Spring Meeting 2020

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[13p-D411-1~16] 6.3 Oxide electronics

Fri. Mar 13, 2020 1:45 PM - 6:15 PM D411 (11-411)

Yusuke Kozuka(NIMS), Tomoteru Fukumura(Tohoku Univ.)

2:30 PM - 2:45 PM

[13p-D411-4] Crystal structure analysis of lithium ion rechargeable battery cathode materials
by the TEM-NBD-Map method

Youhei Sekine1, Kazuto Nakamura1 (1.TOSOH Analysis and Research Center Co.,Ltd.)

Keywords:rechargeable battery, manganese composite oxide

TEMではNano Beam Diffraction(NBD)という電子線プローブを数nmに絞った状態での回折パターン取得により、微小部の結晶構造解析が行われてきた。これを応用したTEM-NBD-Map法は、電子回折パターンのマッピングにより、結晶構造分布評価が可能である。この手法を一部不規則化した層状岩塩構造を持つLIB正極活物質に適用し、不規則構造の観察及び分布解析を行ったた結果、結晶内に複数の結晶構造が混在していることを確認できた。