The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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Symposium (Oral)

Symposium » Pitfalls in thermoelectric measurements

[13p-D511-1~8] Pitfalls in thermoelectric measurements

Fri. Mar 13, 2020 1:30 PM - 4:55 PM D511 (11-511)

Masahiro Nomura(Univ. of Tokyo), Atsuko Kosuga(Osaka Pref. Univ.), Yasuhiro Hasegawa(Saitama Univ.)

3:30 PM - 3:55 PM

[13p-D511-6] Measurements of Thermal Diffusivity and Thermal Conductivity by the Laser Flash Method

Megumi Akoshima1 (1.AIST)

Keywords:thermal conductivity, thermal diffusivity, laser flash method

レーザーフラッシュ法は、常温から1000 ℃を超える広い温度範囲において、平板状試料の厚さ方向の熱拡散率をmmサイズの試料を用いて非接触かつ短時間で測定できる方法である。原理が簡潔であり絶対測定であることから信頼性が高いと言われ、操作が容易な市販の測定装置が実用化されている。本講演ではレーザーフラッシュ法による熱拡散率測定において装置を使いこなして信頼性の高い結果を得るための検討事項について解説する。