2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム » 熱・電気物性測定の落とし穴

[13p-D511-1~8] 熱・電気物性測定の落とし穴

2020年3月13日(金) 13:30 〜 16:55 D511 (11-511)

野村 政宏(東大)、小菅 厚子(阪府大)、長谷川 靖洋(埼玉大)

15:30 〜 15:55

[13p-D511-6] レーザーフラッシュ法による熱拡散率・熱伝導率測定

阿子島 めぐみ1 (1.産総研)

キーワード:熱伝導率、熱拡散率、レーザフラッシュ法

レーザーフラッシュ法は、常温から1000 ℃を超える広い温度範囲において、平板状試料の厚さ方向の熱拡散率をmmサイズの試料を用いて非接触かつ短時間で測定できる方法である。原理が簡潔であり絶対測定であることから信頼性が高いと言われ、操作が容易な市販の測定装置が実用化されている。本講演ではレーザーフラッシュ法による熱拡散率測定において装置を使いこなして信頼性の高い結果を得るための検討事項について解説する。