[13p-D519-1~12] 6.6 Probe Microscopy

△ [13p-D519-4] Novel Method of Domain Wall Motion of Soft Magnetic Thin Film by Alternating Magnetic Force Microscope

〇Tsubasa Osaka¹, Jong-Ching Wu², Hitoshi Saito¹ (1.Akita Univ., 2.N.C Univ.)

Keywords:magnetic force microscopy, domain wall

ソフト磁性材料の磁区観察は，従来の磁気力顕微鏡では探針から発生する漏洩磁場により磁区構造が乱されるので容易ではなかった。本研究ではソフト磁性材料としてパーマロイ・パターンド薄膜を用い，薄膜に交流磁場を印加して磁壁を周期的に移動させることで発生した交流磁場を，残留磁化がゼロの超常磁性探針を用いた交番磁気力顕微鏡により計測したことで，磁壁の移動幅や磁壁のピニングポイントの観察を実現した。