The 67th JSAP Spring Meeting 2020

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[13p-D519-1~12] 6.6 Probe Microscopy

Fri. Mar 13, 2020 1:45 PM - 5:00 PM D519 (11-519)

Yoshiaki Sugimoto(Univ. of Tokyo), Toyokazu Yamada(Chiba Univ.)

2:45 PM - 3:00 PM

[13p-D519-5] Mechanical Property Analysis of Rubber Composite Materials by Atomic Force Microscopy

Akinori Honda1, Kouji Ishida1, Ryouta Yamamoto2, Shou Kubouchi2, Ken Itomi2, Hiroshi Itoh1 (1.AIST, 2.ADMAT)

Keywords:AFM, rubber composite material, mechanical property

2種類のゴム材料とシリカ粒子により構成されるゴム複合材料の力学物性を、原子間力顕微鏡(AFM)を用いた位相像観察によりマッピングした。各種成分を明瞭に区別できる位相像の取得に成功した。また、ゴム試料をホルダーで圧縮しつつAFM計測を行うことで、外力がかかった際の力学物性変化を観察した。加えて、測定に用いるカンチレバーの共振周波数とバネ定数を変化させつつ、力学物性の変化を計測した。