[13p-D519-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [13p-D519-6] 原子間力顕微鏡を用いたAg(111)上シリセンのT相の構造解析

〇(M2)馮 凌瑜¹、小野田 穣²、籔押 慶佑¹、杉本 宜昭¹ (1.東大新領域、2.アルバータ大)

キーワード：原子間力顕微鏡、シリセン

シリセンはSi原子がハニカム状に配列した二次元物質である。近年、シリセンはその優れた電子特性により注目を集めている。シリセンは座屈構造を持っているため、シリセンにの正確な構造決定は難しい。本研究では、Ag(111)上のシリセンのT相のAFM観察について報告する。AFM観察の結果、T相のすべてのSi原子を画像化することに成功した。また、得られたAFM像によって、T相の原子配列には二つの異なるタイプがあることも特定した。