The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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15 Crystal Engineering » 15.3 III-V-group epitaxial crystals, Fundamentals of epitaxy

[13p-PA5-1~14] 15.3 III-V-group epitaxial crystals, Fundamentals of epitaxy

Fri. Mar 13, 2020 1:30 PM - 3:30 PM PA5 (PA)

1:30 PM - 3:30 PM

[13p-PA5-2] Relationship between N composition and Eg of GaAsN grown by RF-MBE

Ikuo Fujimori1, Takashi Tsukasaki1, Miki Fujita2, Toshiki Makimoto1 (1.Waseda Univ., 2.NIT, Ichinoseki College)

Keywords:GaAsN, bandgap energy, absorption coefficient

低N組成のGaAsNは、N組成の増加に従ってバンドギャップエネルギー(Eg)が減少するため、GaAsよりもEgが小さいという特性がある。そのため、次世代の太陽電池への応用が期待される。したがって、GaAsNのEgを正確に評価することが重要となる。ここで、GaAsNのEgを測定する際には、GaAsNの電気的特性にも注意しなければならない。本研究では、RF-MBE法を用いて不純物混入の少ないGaAsNを成長し、光の透過・吸収測定により、N組成とEgの関係を求めた。