9:45 AM - 10:00 AM
[14a-A305-4] Development of minimal fab ion milling tool and the process characterization
Keywords:Minimal Fab, Ion Milling
ミニマルイオンミリング装置を開発し、金属より削れ難い熱酸化膜において60sec加工し、ウェハ半径5mmまで削れ量18nm、ばらつき6%以下とプロトタイプ装置としては良好な加特性を確認した。
Oral presentation
13 Semiconductors » 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology
Sat. Mar 14, 2020 9:00 AM - 12:00 PM A305 (6-305)
Kuniyuki Kakushima(Tokyo Tech)
9:45 AM - 10:00 AM
Keywords:Minimal Fab, Ion Milling