2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[14a-B409-1~10] 3.8 光計測技術・機器

2020年3月14日(土) 09:00 〜 11:45 B409 (2-409)

塩田 達俊(埼玉大)、南川 丈夫(徳島大)

09:15 〜 09:30

[14a-B409-2] デュアルコム固体分光法の電気光学効果測定への応用

足立 拓斗1,2、浅原 彰文1,2、白川 正之3、徳永 英司3、美濃島 薫1,2 (1.電通大、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ、3.東京理科大学)

キーワード:デュアルコム分光法、光コム

光デバイスの設計や最適化において、光と物質の相互作用を精密に測定しておく必要がある。我々のグループはデュアルコム分光法を用いた固体物性評価法の開発に注力しており、これまでに複素屈折率測定法や磁性材料のファラデー回転角測定法の開発などを行ってきた。本研究ではデュアルコム固体分光法による、高機能かつ詳細な電気光学効果測定法の実現を目指した。