The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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Oral presentation

2 Ionizing Radiation » 2.4 Accelerator Mass Spectrometry, Accelerator Beam Analysis

[14a-D209-1~10] 2.4 Accelerator Mass Spectrometry, Accelerator Beam Analysis

Sat. Mar 14, 2020 9:00 AM - 11:45 AM D209 (11-209)

Hidetsugu Tsuchida(Kyoto University), Hiroyuki Matsuzaki(University of Tokyo)

9:45 AM - 10:00 AM

[14a-D209-4] Study on the production process of negative ions in negative ion source using Cs sputtering

Yasuto Miyake1, Hiroyuki Matsuzaki2,3 (1.RIKEN Nishina Center, 2.Univ. Museum, The Univ. of Tokyo, 3.Dep. Eng. The Univ. of Tokyo)

Keywords:negative ion source, Cs sputtering, Accelerator mass spectrometry

セシウム(Cs)スパッター型負イオン源における負イオンの生成は、Cs+イオンを試料表面に照射することにより、スパッタリングで試料から飛び出た原子がCsと相互作用することによるものと考えられているが、依然として不明な点があり研究が進められている。本発表では、Csスパッター型負イオン源の負イオンの生成プロセスに関する研究の近年の動向をレビューし、研究の方向性について検討する。