2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[14a-D221-1~12] 6.2 カーボン系薄膜

2020年3月14日(土) 09:00 〜 12:15 D221 (11-221)

嘉数 誠(佐賀大)、川原田 洋(早大)

10:00 〜 10:15

[14a-D221-5] ヘテロエピタキシャルダイヤモンド基板の結晶性とショットキーバリアダイオード特性

大曲 新矢1、小林 篤史1、坪内 信輝1、山田 英明1 (1.産総研)

キーワード:ダイヤモンド、ヘテロエピタキシャル、ダイオード

ヘテロエピタキシャルダイヤモンド膜のSBD特性が報告されている.室温で108を超える高い整流比が確認されている一方で,結晶面内の不均一性が大きく,デバイス特性のばらつきが大きい.我々は,CVD成長中に金属原子を意図的に混入させることで,結晶性を改善する,金属援用終端法 (metal-assisted termination: MAT) を開発した.本研究では,ヘテロエピタキシャル基板上で,MATバッファ層挿入前後のドリフト層の品質を評価し,SBD特性に与える影響を調べた.