2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[14p-B409-1~15] 3.8 光計測技術・機器

2020年3月14日(土) 13:15 〜 17:30 B409 (2-409)

大久保 章(産総研)、瀬戸 啓介(東理大)

15:30 〜 15:45

[14p-B409-8] 回折光学からOCTを見て分かったこと

市川 裕之1、安野 嘉晃2 (1.愛媛大院理工、2.COG筑波大)

キーワード:OCT、回折光学、電磁場解析

生体・医用分野で標準的検査技術であるOCTにおいて、特に試料の微細構造とOCT信号の本質的な関係を解明することを目的として、簡単な格子構造を想定し、試料内部の光波伝搬の電磁場解析を行った。その結果、微小構造を有する試料ではOCT信号が必ずしも直接的に試料構造を反映していないことが分かった。