2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

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[14p-PA2-1~86] 2 放射線

2020年3月14日(土) 16:00 〜 18:00 PA2 (第3体育館)

16:00 〜 18:00

[14p-PA2-72] pn接合型CdTeダイオードX線画像検出素子の特性評価

早川 護1、西澤 潤一1,3、神戸 健佑1、都木 克之2,3、青木 徹1,2,3 (1.静岡大院、2.静大電研、3.(株)ANSeeN)

キーワード:放射線検出器、半導体、CdTe

我々はX線画像検出素子の開発のために、レーザードーピングを用いたpn接合型CdTeダイオードの形成を行った。オーミック型と異なりピクセル分離のためのパターンドーピングを行うため、本研究ではフォトリソグラフィ、リフトオフによってピクセル状にドーパント材を形成した。その後レーザードーピングによるpn接合を形成し、画像検出素子としての特性評価を行い、ガンマ線エネルギースペクトル評価とX線透過像撮像を行った。