[15a-D215-1~12] 7.2 Applications and technologies of electron beams

[15a-D215-10] Observation of Electronic Orbitals at Graphene Edges by FEM and FIM

〇Yahachi Saito¹, Tohru Hoshino², Hitoshi Nakahara², Koji Asaka², Shigekazu Nagai³, Koichi Hata³ (1.Toyota Riken, 2.Nagoya Univ., 3.Mie Univ)

Keywords:graphene, field emission

グラフェンの自由端からの電界放出顕微鏡(FEM)像には、π電子軌道の対称性を反映した独特の縞状の“lip pattern”が観察される。FEMと相補的な手法である電界イオン顕微鏡(FIM)では，フェルミ準位より上の非占有π電子軌道が，高い分解能で観察できると期待される。本報告では，グラフェン端からのFIM像では，グラフェン面に垂直な方向に分裂した双極斑点(dipole spots)の列がより高い分解能で観察されることを示す。