[15a-D215-1~12] 7.2 電子ビーム応用

[15a-D215-10] FEM/FIMによるグラフェンエッジの電子軌道の観察

〇斉藤 弥八¹、星野 徹²、中原 仁²、安坂 幸師²、永井 滋一³、畑 浩一³ (1.豊田理研、2.名古屋大、3.三重大)

キーワード：グラフェン、電界放出

グラフェンの自由端からの電界放出顕微鏡(FEM)像には、π電子軌道の対称性を反映した独特の縞状の“lip pattern”が観察される。FEMと相補的な手法である電界イオン顕微鏡(FIM)では，フェルミ準位より上の非占有π電子軌道が，高い分解能で観察できると期待される。本報告では，グラフェン端からのFIM像では，グラフェン面に垂直な方向に分裂した双極斑点(dipole spots)の列がより高い分解能で観察されることを示す。