2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.2 電子ビーム応用

[15a-D215-1~12] 7.2 電子ビーム応用

2020年3月15日(日) 09:00 〜 12:15 D215 (11-215)

橘田 晃宜(産総研)、川久保 貴史(香川高専)

09:45 〜 10:00

[15a-D215-4] ナノ粒子のサイズ分布計測のための電子顕微鏡用調製試料の品質

黒河 明1、熊谷 和博1 (1.産総研)

キーワード:ナノ粒子サイズ分布、電子顕微鏡観察、試料調製

電子顕微鏡でナノ粒子のサイズ分布計測をするときナノ粒子分散液を滴下乾燥して試料調製する方法が多用される。調整した試料の品質を現す方法として二段階判定による整理法を述べる。第一段階の判定を、滴下乾燥痕におけるリング状凝集の有無とする。これにより試料調製条件の探索時には、蛍光ナノ粒子を用いた光学顕微鏡法を用いることができ、電子顕微鏡法に替わるスクリーニング法としての利点がある。