The 67th JSAP Spring Meeting 2020

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.2 Applications and technologies of electron beams

[15a-D215-1~12] 7.2 Applications and technologies of electron beams

Sun. Mar 15, 2020 9:00 AM - 12:15 PM D215 (11-215)

Mitsunori Kitta(AIST), Takashi Kawakubo(Natl. Inst. of Tech., Kagawa College)

10:15 AM - 10:30 AM

[15a-D215-6] Comparison of phase reconstruction by applying wavelet hidden Markov model denoising to electron hologram and its Fourier plane image

Yoshihiro Midoh1, Koji Nakamae1 (1.Osaka Univ.)

Keywords:electron hologram, noise reduction, wavelet transform

電⼦材料や磁性材料の微⼩な電磁場分布を観察するために電⼦線ホログラフィーが⽤いられている。電⼦線ホログラム(⼲渉縞)から微⼩な位相変化を正しく計測するためには雑⾳低減が必要である。我々はこれまでにウェーブレット隠れマルコフツリーモデルを⽤いた雑⾳低減⼿法を開発してきた。本報では、様々な観察条件のホログラムへの効果的な適用を目指して、電子線ホログラムとそのフーリエ平面画像への雑音低減を比較評価した結果を報告する。