The 67th JSAP Spring Meeting 2020

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.6 Probe Microscopy

[15a-D305-1~10] 6.6 Probe Microscopy

Sun. Mar 15, 2020 9:00 AM - 11:30 AM D305 (11-305)

Yoichi Otsuka(Osaka Univ.), Keisuke Miyazawa(Kanazawa Univ.)

10:45 AM - 11:00 AM

[15a-D305-8] Conversion of Measuring Magnetic Field Direction by Tip Transfer Function on Magnetic Field Microscopy

Shu Wada1, Yue Zhao1, Toru Matsumura1, 〇Hitoshi Saito1 (1.Akita University)

Keywords:Magnetic Force Microscopy

磁気力顕微鏡(MFM)では空間分解能や機能性の向上が強く求められている.MFMが検出する磁場勾配における磁場の方向は探針磁化方向になるので、従来は計測したい磁場方向に合わせて探針磁化方向を調整する必要があり、3次元的な磁場計測は容易ではなかった.本研究では、MFMにおいて測定した磁場勾配信号から他の計測方向での磁場勾配を求めるための計測磁場方向変換法を開発することで3次元磁場計測を実現した。