2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[15a-D311-1~12] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2020年3月15日(日) 09:00 〜 12:15 D311 (11-311)

大矢 忍(東大)

09:30 〜 09:45

[15a-D311-3] VO2モットトランジスタにおける超急峻ゲート変調の起源

矢嶋 赳彬1、西村 知紀1、田中 貴久1、内田 建1、鳥海 明1 (1.東大マテ)

キーワード:電界効果、金属絶縁体転移、ジュール熱

VO2の金属絶縁体転移をゲート電圧で誘起するモットトランジスタにおいて、ゲート電圧と独立にドレイン電圧を印加することで、転移が劇的に急峻化することを実験的に見出した。デバイスシミュレーションの結果、ゲート電圧による電子蓄積が相転移を引き起こすのに対し、ドレイン電圧が転移の最中に加速的にジュール熱を発生し転移を急峻化するという、3端子デバイスならではの現象であることを明らかにした。