[15a-PA2-1~18] 3.8 光計測技術・機器

[15a-PA2-4] シュタルク効果を用いた一臭化ヨウ素のA←X電子遷移スペクトル計測Ⅱ

〇(M1)玉木 亮太¹、西宮 信夫¹、行谷 時男¹ (1.東京工芸大工)

キーワード：レーザ分光、シュタルク効果、分子スペクトル

チタンサファイアレーザを用いたシュタルク分光法によりIBr分子の解離付近であるv’=33 ← v”=1遷移のスペクトルを計測した。この遷移は700nm付近に存在し、その付近はスペクトル密集度が高く、通常の方法では回転量子数Jが小さいスペクトルは検出が難しいが、本方法により検出可能となった。また、計測したスペクトルの帰属を行った。今後、分光定数の計算を行う予定である。