2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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3 光・フォトニクス » 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

[15a-PA4-1~29] 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

2020年3月15日(日) 09:30 〜 11:30 PA4 (第3体育館)

09:30 〜 11:30

[15a-PA4-15] ハイパースペクトルカメラによるナノ構造の不均一性の観測

ゼメワ 佳路瑠1、三宮 工1 (1.東工大)

キーワード:ナノフォトニクス

本研究では、大面積加工が可能である自己組織化を用いて、六角形ナノディスクアレイを作製し、その不均一性をハイパースペクトルカメラにより観測する。通常のハイパースペクトルカメラ撮影では、分光器スリットをスキャンしながら測定するため、露出時間のわりに得られる強度が小さく、S/Nがあがらない問題がある。本研究では、符号化開口を用いて、S/Nを改善し光速撮影を目指す。