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[15a-PA4-15] ハイパースペクトルカメラによるナノ構造の不均一性の観測
キーワード:ナノフォトニクス
本研究では、大面積加工が可能である自己組織化を用いて、六角形ナノディスクアレイを作製し、その不均一性をハイパースペクトルカメラにより観測する。通常のハイパースペクトルカメラ撮影では、分光器スリットをスキャンしながら測定するため、露出時間のわりに得られる強度が小さく、S/Nがあがらない問題がある。本研究では、符号化開口を用いて、S/Nを改善し光速撮影を目指す。