13:30 〜 13:45 △ [12p-N206-3] 高品質ルチル型GeO2薄膜の結晶成長および構造解析 〇(M2)高根 倫史1、柳生 慎悟2、四戸 孝2、金子 健太郎1 (1.京大院工、2.(株)FLOSFIA)