[10a-N204-1~12] CS.10 6.5 表面物理・真空と7.6 原子・分子線およびビーム関連新技術のコードシェアセッション

[10a-N204-1] カーボンナノチューブ製電子放出源の原子状酸素照射による影響評価

〇江崎 啓介¹、板谷 一輝¹、深見 侑希¹、芦田 優作¹、杉本 紘基¹、大川 恭志²、河本 聡美²、横田 久美子¹、田川 雅人¹ (1.神戸大、2.JAXA)

キーワード：電界放出、カーボンナノチューブ、原子状酸素

電子放出源(FEC)は導電性テザーを利用したデブリ除去システムのコアパーツであり、低電力・安定運用のため陰極材料にはCNTの利用が検討されている。しかし、炭素系材料は原子状酸素(AO)との衝突で激しい劣化が起こることが知られており、材料劣化により電子放出性能が低下することが懸念されている。そこで、本研究ではCNT製FECの地球低軌道環境下における性能変化を評価することを目的とし、FECへのAO曝露in-situ地上試験を行った。