[10a-N402-1~9] CS.1 Code-sharing Session of 2.3 & 7.5

[10a-N402-8] Energy per molecule dependence of fragment ion intensity in cluster SIMS

〇Ken Mizuhata¹, Kousuke Moritani¹, Tomomichi Nakamura², Norio Inui¹ (1.Eng,Univ.of Hyogo, 2.Sim,Univ.of Hyogo)

Keywords:ion beam, Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS

サイズを選別した(Ar)n+および(D2O)n+クラスターを一次イオンとして、ニトロベンジルピリジニウム塩（NBP）の二次イオン質量分析（SIMS）測定を行った。スペクトル中に現れるフラグメントイオンは一次イオンの1分子あたりエネルギー(E/n)に依存して変化することがわかった。二次イオン強度のE/n依存の類似性から、その物理化学的意味について検討する。