[10p-N323-1~12] 13.3 絶縁膜技術

△ [10p-N323-7] HAXPESによる界面ダイポール変調発生の確認

〇(M1)桐原 芳治¹、辻口 良太¹、保井 晃²、宮田 典幸³、野平 博司¹ (1.都市大、2.高輝度光科学研、3.産総研)

キーワード：界面ダイポール、HAXPES、MOS構造